반도체 직장인의 소소한 블로그

PCM 항목의 정의 반도체 공정을 진행한 Wafer에 형성되는 각종 소자(Tr., 저항, 다이오드, Capacitor등)의 전기적 특성을 측정하여 공정 진행 상태를 판단 할 수 있는DC Parameter를 추출하는 과정을 PCM(Process Controlled Monitor) Parameter 측정이라고 한다. 이를 위해서는 Wafer에서 구현되는 회로를 대변하는 각종 소자들의 적절한 전기적 특성을 추출하기 위한 Test Pattern들을 제작한다. 이번 장에서는 이러한 PCM 측정을 위한 각종 소자들의 Test Pattern 형태 및 측정 Parameter들의 정의와 측정방법에 대하여 정리하였다. Test Pattern (MOSFET)의 구조 아래의 그림은 단면도(a)와 Layout(b)이다. Tra..

코멘토 반도체 공정 기술 직무 개설 사유 최근 2년간 COVID-19의 영향으로, 자소서 합격률이 낮아지며 대면 면접에 참가 할 수 있는 지원자가 줄어 들고 있습니다. 그럼 대면 면접에 참가 할 수 있는 자격을 가진 지원자는 누구일까요? 사실 해가 거듭 될 수록 반도체 산업에 직무에 대한 수요가 늘어가면서, 비슷 비슷한 사외 교육이 늘어나고 있어서 이러한 교육 실습 만으로 지원자들의 경쟁력을 갖추기가 힘들어 지고 있습니다. 이러한 문제를 해결 하기 위한 방법은 현업 Engineer가 현업에서 다루는 Data의 종류라던지, JOB Description에서 Rough 하게만 볼 수 있었던 업무의 Process를 공유 해주고 함께 과제를 진행 하고 검토 해주면서 실무에 대한 역량을 키워 나가는 방법이라고 생각..